Měřicí systémy

Seminář Metrologie vybraných kinematických veličin

Lektor: 

Ing. Milan Prášil, CSc. (ČMI Praha, Lab. primární metrologie)

Datum akce: 
Úterý, 18. Prosinec 2012 - 9:00 - 17:00

Seminář seznámí účastníky se základy metrologie vybraných veličin pohybu – měření mechanických vibrací a rázů, dynamické síly a přímočaré i otáčivé rychlosti. Budou popsány principy měření těchto veličin, velká pozornost bude věnována snímačům a zejména metodám jejich kalibrace, etalonům jednotlivých veličin a jejich metrologické návaznosti. 

Seminář Testování dynamických vlastností digitalizátorů spojitých signálů

Lektor: 

doc. Ing. Josef Vedral, CSc. (ČVUT FEL)
prof. Ing. Vladimír Haasz, CSc. (ČVUT FEL)
doc. Ing. Jaroslav Roztočil, CSc. (ČVUT FEL)

Datum akce: 
Pátek, 21. Září 2012 - 9:00 - 17:00

Digitalizátory spojitých signálů jsou v současnosti nedílnou součástí většiny moderních elektronických systémů v měřicí technice, diagnostice, automatizaci, robotice, telekomunikaci, radiotechnice a lékařské elektronice. Protože kvalita číslicového zpracování signálů je v těchto systémech určena zejména parametry digitalizátorů, je problematika jejich testování vysoce aktuální, o čemž svědčí též vydané standardy IEEE STd. 1057, IEEE Std. 1241. Cílem semináře je seznámit posluchače se současným stavem a moderními trendy v oblasti testování digitalizátorů spojitých signálů. 

Vývoj aplikácií v LabVIEW pre meracie úlohy s CompactRIO systémami

Lektor: 

Ing. Mgr. Márk Jónás (ANV s.r.o., Bratislava)
Ing. Zuzana Petráková (ANV s.r.o., Bratislava)
Mgr. Silvia Mókosová (ANV s.r.o., Bratislava)
Ing. Gregor Izrael, PhD. (ANV s.r.o., Bratislava)

Datum akce: 
Pondělí, 13. Srpen 2012 - 9:00 - Středa, 15. Srpen 2012 - 17:00
Datum akce: 
Pondělí, 20. Srpen 2012 - 9:00 - Pátek, 24. Srpen 2012 - 17:00

Cieľom kurzu je poskytnúť záujemcom ucelený blok programovania v LabVIEW pre použitie pri programovaní CompactRIO systémov. LabVIEW je grafický programovací jazyk ktorého zvládnutie je nutným predpokladom k vývoju aplikácií pre CompactRIO systémy. Kurz sa zaoberá vývojom aplikácií v LabVIEW a využitím CompactRIO systémov pre meracie aplikácie, ako napr. pridanie nových V/V bodov nebo prepojenie s hardvérom tretích strán. 

Základy práce a programovania CompactRIO systémov pre meracie aplikácie

Lektor: 

Ing. Mgr. Márk Jónás (ANV s.r.o., Bratislava)

Datum akce: 
Pátek, 29. Červen 2012 - 9:00 - 17:00

Cieľom kurzu je poskytnúť záujemcom ucelený rámec pre vývoj aplikácií pre CompactRIO systémy. CompactRIO systémy sa skladajú z real-time kontroléra, programovateľného hradlového poľa a viacerých špecifických V/V modulov. Kurz sa zaoberá základmi vývoja aplikácií pre jednotlivé súčasti systémov CompactRIO a transferu dát z a do riadiaceho počítača. 

Seminář Vybrané problémy metrologie fyzikálních a elektrických veličin

Lektor: 

Mgr. Martin Šíra, Ph.D. (ČMI Brno)
Ing. Věra Nováková Zachovalová (ČMI Brno)
Ing. Jan Otych (ČMI Brno)
Mgr. Jaroslav Zůda (ČMI Brno)

Datum akce: 
Pondělí, 18. Červen 2012 - 9:00 - 17:00

Moderní věda je neodmyslitelně spojena s problematikou metrologického zajištění měřených mechanických,  tepelných, chemických a elektrických veličin. Neustále se zvyšující požadavky na přesné a opakovatelné měření jsou hlavní motivací pro rychlý rozvoj používaných metod. Cílem semináře je seznámit účastníky se současným stavem metrologie vybraných veličin - teploty, hmotnosti, elektrických veličin. Dále bude na praktickém příkladu vysvětlen výpočet nejistot metodou Monte Carlo. 

Seminář Návrh, simulace a ověření elektronických obvodů na platformě NI ELVIS

Lektor: 

Ing. Roman Vala (National Instruments)

Datum akce: 
Pátek, 13. Duben 2012 - 9:00 - 17:00

Cílem semináře je seznámit účastníky s možnostmi návrhu elektronických obvodů, jejich simulací a následným ověřením jejich funkce s reálným zapojením. Návrh a simulace bude prováděno v SW Multisim. Ověření funkce obvodu bude realizováno jak na SW přístrojích, které jsou součástí Multisimu tak i na vytvořených virtuálních přístrojích. Návrh virtuálních přístrojů bude realizován v SW LabVIEW. Seminář bude probíhat formou praktického cvičení na platformě NI ELVIS.

Seminář Systém managementu kvality ve zkušebních laboratořích

Lektor: 

Ing. Michala Vaníková, Ph.D.   (Quality Centrum spol. s r.o., Písek)

Datum akce: 
Pátek, 30. Březen 2012 - 9:00 - 17:00

Cílem semináře je seznámit posluchače se zaváděním systému managementu kvality dle mezinárodní normy ISO/IEC 17025 do zkušebních laboratoří. Budou zde vysvětleny požadavky na management a technické požadavky, které musí zkušební laboratoře splnit, aby získaly akreditaci svého pracoviště. Součástí semináře budou i praktické zkušenosti při tvorbě systémové dokumentace, kterou je nezbytné předložit akreditačnímu orgánu.

Seminář Zvyšování citlivosti systémů s analogovým předzpracováním signálů

Lektor: 

Prof. Ing. Karel Hájek, CSc.   (Univerzita obrany, Brno)

Datum akce: 
Pátek, 17. Únor 2012 - 9:00 - 17:00

Seminář je zaměřený na systémy s analogovým předzpracováním signálů, což je většina měřicích, regulačních a dalších elektronických systémů. Citlivost těchto systémů bývá do značné míry ovlivněna vlastnostmi řetězce analogového předzpracování. Cílem semináře je ukázat hlavní problémy omezující tuto citlivost a kromě obecného rozboru různých typů řetězce analogového předzpracování bude seminář zaměřen hlavně na snižování šumu či ofsetu předzesilovačů v závislosti na vnitřní impedanci senzorů (složka odporová, kapacitní, induktivní).

Seminář Koherentní demodulace a její využití v měřicí technice

Lektor: 

 Prof. Ing. Stanislav Ďaďo, DrSc. (ČVUT Praha)

Datum akce: 
Pátek, 18. Listopad 2011 - 9:00 - 17:00

V měřicí technice jsou velmi rozšířené obvody pro zpracování měřicích signálů - koherentní demodulátory, známé spíše pod označením synchronní detektory, fázově citlivé detektory, cize řízené usměrňovače, lock-in zesilovače (LIA). Dovolují určit amplitudu a fázi signálu, a to i v případech signálu s amplitudou ležící hluboko pod úrovní rušení. Podmínkou jejich správné funkce je koherence vstupního a referenčního signálu. Jejich funkce je většinou demonstrována na silně zjednodušeném modelu, zdaleka nevystihujícím jejich podstatu, možné aplikace a případná omezení. V průběhu semináře bude ukázán jejich hlubší teoretický základ založený na metodách odhadu parametrů signálu, jejich přístrojová realizace a typické aplikace. 

Seminář Metrologie měření zvuku a vibrací

Lektor: 

 doc. Dr. Ing. Pavel Němeček (Technická univerzita Liberec)

Datum akce: 
Pátek, 7. Říjen 2011 - 9:00 - 17:00

Metrologické zabezpečení systémů měření a kontroly je důležité z hlediska požadavků zákona a z hlediska zajištění jednotnosti a správnosti měření. Splnění požadavků legislativy je možné především kalibrací měřidel, případně jejich ověřením. Kvalita výsledku měření je pak vyčíslena pomocí nejistoty. Veličiny popsané amplitudou a frekvencí jsou specifické jak prováděním kalibrací, tak také stanovením a hodnocením zdrojů nejistot měření.

Syndikovat obsah